提供優質測試探針批發和定制
產品型號：DP051-BU-3.3L
所屬分類：雙頭探針
產品介紹：探針外徑為0.51mm，總長度為3.3mm、針的兩端的頭型為尖頭，爪頭
產品優勢：產品采樣穩定、產品過載穩定、產品測試誤判率低
主要應用于：IC testing in BGA, micro BGA, CSP socket????
主要應用行業：手機、電腦、通信等。只要有芯片的行業幾乎都被推行使用半導體測試探針進行測試，主要需求量最大的需屬芯片封裝測試行業。
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測試探針的質量主要體現在材質、鍍層、彈簧、套管的直徑精度及制作工藝上。測試探針分國產、臺灣香港、進口三種，而國內的產品其材質很多用進口材質。那么測試探針的原材料的材質：W，ReW,CU、 A+1.主要采用的材質為W，ReW, 彈性一般，容易偏移，粘金屑，需要多次的清洗，磨損損針長，壽命一般。2. A+材質的免清針，這種材質彈性較好，測試中不容易偏移，并且不粘金屑，免清洗，因此壽命較長。彈片微針模組是測試探針的一種，一體成型式的彈片結構，體型輕薄，鍍金后經過加硬處理，可承載的電流最高能達到50A，電流傳輸時流通于同一材料體內，具有更好地連接功能；在小pitch領域，彈片微針模組的適應性高，可取值范圍最小可達到0.15mm，性能很穩定。彈片微針模組的平均使用壽命可達到20w次以上，在操作、保養、環境都很好的情況下能
2020-12-10
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